五種能影響雷達物位計精密測量的幹擾因素

    雷達料位計 “多才多藝”可以適應高溫、高壓、蒸汽等任何環境條件。而且低維護，高性能，使用壽命長等優點。雷達料位計本身可以扛住一切，但是也怕來自外部的幹擾。

    第一種，來自天體和天電的幹擾
    天體帶來的幹擾是來自太陽或者其他恒星所產生的輻射電磁波。天電幹擾則是因天氣變化產生的雷電帶來的電離子，因火山爆發或者地震等不可預測的自然災害產生的電磁波和空間電位變化所引起的幹擾。

    第二種，來自機械方麵的幹擾
    窗體頂端
    機械的幹擾是指由於機械的振動或衝擊，使控製儀表中的電氣元件發生振動、變形，使連接線發生位移，使指針發生抖動、儀表接頭鬆動等。對於機械類的幹擾主要是采取減振措施來解決，例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。
    機械的幹擾是指由於機械的振動或衝擊，使控製儀表中的電氣元件發生振動、變形，使連接線發生位移，使指針發生抖動、儀表接頭鬆動等。對於機械類的幹擾主要是采取減振措施來解決，例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。

    窗體底端
   機械方麵也是會產生一定的幹擾，那是因為儀表安裝或附近的機械產生的振動衝擊，這樣會使儀表中的電氣元件跟著一起振動、變形，使連接的點和線發生了位移，儀器的指針發生抖動、接頭處鬆動等等。要解決機械類的幹擾主要就是要采取減振措施來解決，例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。

    第三種，來自熱的幹擾
    在有熱力設備的工廠，設備在工作時所產生出的熱量會影響儀表的電路元器件，導致參數發生了變化，從而影響了控製儀表，沒辦法進行正常工作。

    第四種，來自光的幹擾
    在儀表的製做中大規模的使用了各種各樣的半導體元件，因為半導體元件在長期大量的光照下，會被影響導電性能，影響了儀表的正常工作。

    第五種，來自濕度和化學方麵的幹擾
    窗體頂端
    濕度過高會引起絕緣體的絕緣電阻下降，漏電流增加；電介質的介電係數增加，電容量增加；吸潮後骨架膨脹使線圈阻值增加，電感器變化；應變片黏貼後，膠質變軟，精度下降等。
    窗體底端

    物位計大多是具備抗濕防腐的功能，但如果工況環境的濕度過高，則會引起漏電，如果測量的物體中還有酸、堿、鹽等這些化學物品或者其他的腐蝕性氣體，那麽將會損壞儀表的設備和基礎元器件，影響到儀表的正常工作。